X射線鍍層測厚儀  X熒光光譜儀

型號：GR/Thick 600

X射線鍍層測厚儀是集天瑞儀器多年鍍層測厚檢測技術和經驗，以*的產品配置、功能齊全的測試軟件、友好的操作界面來滿足金屬鍍層及含量測定的需要，人性化的設計，使測試工作更加輕松完成。

使用高效而實用的正比計數盒和電制冷探測器，以實在的價格定位滿足鍍層厚度測量的要求，且全新的更具有現代感的外形、結構及色彩設計，使儀器操作更人性化、更方便。

性能特點

長效穩定X銅光管

半導體硅片電制冷系統，摒棄液氮制冷

采用天瑞儀器產品—信噪比增強器（SNE）

內置高清晰攝像頭，方便用戶隨時觀測樣品

脈沖處理器，數據處理快速準確

手動開關樣品腔，操作安全方便

三重安全保護模式

整體鋼架結構、外型高貴時尚

FP軟件，無標準樣品時亦可測量

技術指標

型號：THICK600

分析范圍： Ti-U，可分析zui高3層15個元素

分析厚度：一般0.05-30um（不同元素厚度有所不同）

分析精度：多次測量穩定性可達1%.

工作電壓：AC 110V/220V（建議配置交流凈化穩壓電源）

測量時間：40秒（可根據實際情況調整）

探測器分辨率：（160±5）eV

光管高壓：5-50kV

管流：50μA-1000μA

環境溫度：15℃-30℃

環境濕度：30%-70%

準直器：配置不同直徑準直孔，zui小孔徑φ0.2mm

儀器尺寸：610(L) x 355 (W) x 380（H） mm

儀器重量：30kg